Nanjing Wasin Fujikura tenperatura altuko zuntz optikoek propietate optiko onak, nekearekiko propietate dinamiko bikainak eta tenperatura altuko baldintzetan trakzio-erresistentzia handia dituzte. Wasin Fujikurak bi tenperatura altuko zuntz erresistente serie ditu, 200 gradutan eta 350 gradutan.
► Tenperatura altuetan errendimendu ona
► Egonkortasun-errendimendua tenperatura baxuko eta tenperatura altuko ziklo jarraituetan (-55 °C-tik 300 °C-ra arte)
► Galera txikiko banda zabala (ultramore hurbiletik infragorri hurbilera, 400nm-tik 1600nm-ra)
► Kalte optikoen aurkako erresistentzia ona
► 100KPSI indar maila
► Prozesua malgua da eta geometria, zuntz-profilaren egitura, NA eta abar desberdinak lortzeko pertsonaliza daiteke.
| Erretxina poliakrilikoa estaldura gisa | |||
| Parametroa | HTML | HTHF | HTSF |
| Estalduraren diametroa (um) | 50±2.5 | 62,5±2,5 | - |
| Estalduraren diametroa (um) | 125±1.0 | 125±1.0 | 125±1.0 |
| Estalduraren zirkulartasun eza (%) | ≤1 | ≤1 | ≤1 |
| Nukleoaren / estalduraren kontzentrikotasuna (um) | ≤2 | ≤2 | ≤0,8 |
| Estalduraren diametroa (um) | 245±10 | 245±10 | 245±10 |
| Estaldura / estaldura kontzentrikotasuna (um) | ≤12 | ≤12 | ≤12 |
| Zenbakizko Irekidura (NA) | 0,200 ± 0,015 | 0,275 ± 0,015 | - |
| Modu-eremuaren diametroa (um) @1310nm | - | - | 9,2±0,4 |
| Modu-eremuaren diametroa (um) @1550nm | - | - | 10,4±0,8 |
| Banda-zabalera (MHz.km) @850nm | ≥300 | ≥160 | - |
| Banda-zabalera (MHz.km) @1300nm | ≥300 | ≥300 | - |
| Hortz-maila frogatua (kpsi) | 100 | 100 | 100 |
| Funtzionamendu-tenperatura-tartea (°C) | -55etik +200era | -55etik +200era | -55etik +200era |
| Epe laburrean (°C) (Bi egunetan) | 200 | 200 | 200 |
| Epe luzerako (°C) | 150 | 150 | 150 |
| Atenuazioa (dB/km) @1550nm | - | - | ≤0,25 |
| Atenuazioa (dB/km) | ≤0.7 @1300nm | ≤0.8 @1300nm | ≤0.35@1310nm |
| Atenuazioa (dB/km) @850nm | ≤2.8 | ≤3.0 | - |
| Uhin-luzera moztea | - | - | ≤ 1290nm |
| Poliimida estaldura gisa | |||
| Parametroa | HTML | HTHF | HTSF |
| Estalduraren diametroa (um) | 50±2.5 | 62,5±2,5 | - |
| Estalduraren diametroa (um) | 125±1.0 | 125±1.0 | 125±1.0 |
| Estalduraren zirkulartasun eza (%) | ≤1 | ≤1 | ≤1 |
| Nukleoaren / estalduraren kontzentrikotasuna (um) | ≤2.0 | ≤2.0 | ≤0,8 |
| Estalduraren diametroa (um) | 155±15 | 155±15 | 155±15 |
| Estaldura / estaldura kontzentrikotasuna (um) | 10 | 10 | 10 |
| Zenbakizko irekidura (NA) | 0,200 ± 0,015 | 0,275 ± 0,015 | - |
| Modu-eremuaren diametroa (um) @1310nm | - | - | 9,2±0,4 |
| Modu-eremuaren diametroa (um) @1550nm | - | - | 10,4±0,8 |
| Banda-zabalera (MHz.km) @850nm | ≥300 | ≥160 | - |
| Banda-zabalera (MHz.km) @1300nm | ≥300 | ≥300 | - |
| Hortz-froga maila (kpsi) | 100 | 100 | 100 |
| Funtzionamendu-tenperatura-tartea (°C) | -55etik +350era | -55etik +350era | -55etik +350era |
| Epe laburrean (°C) (Bi egunetan) | 350 | 350 | 350 |
| Epe luzerako (°C) | 300 | 300 | 300 |
| Atenuazioa (dB/km) @1550nm | - | - | 0,27 |
| Atenuazioa (dB/km) | ≤1.2 @1300nm | ≤1.4@1300nm | ≤0.45@1310nm |
| Atenuazioa (dB/km) @850nm | ≤3.2 | ≤3.7 | - |
| Uhin-luzera moztea | - | - | ≤1290 nm |
Atenuazio-proba, zuntza 35 cm baino diametro handiagoa duen disko batean bilduz 1 ~ 2 g tentsioekin